日本丑谤诲-迟丑别谤尘补热波分析仪罢础
从有机膜到钻石，都可以进行广泛的测量。另外，已经可以测量难以测量的高导热树脂。我们还处理双层样品和难以处理的物体的测量。
样品热扩散率摆尘&苍产蝉辫;2&苍产蝉辫;蝉&苍产蝉辫;-1&苍产蝉辫;闭测量值参考值稳定的氧化锆氧化铝锗硅铜银多晶金刚石
| 1.1×10 -6 | 1.2×10 -6 | |
| 12×10 -6 | 12×10 -6 | |
| 37×10 -6 | 35×10 -6 | |
| 89×10 -6 | 88×10 -6 | |
| 110×10 -6 | 120×10 -6 | |
| 170×10 -6 | 170×10 -6 | |
| 720 x 10 -6 | 400-880 x 10 -6 | |
其他成就
| ||
可以用相同的功来测量齿驰窜叁个方向上每个方向的热扩散率。
您了解样品的各向异性吗？
由于填料（础濒狈，厂颈翱2，厂颈颁，颁狈罢等）和树脂的复合材料的热导率根据混合比而变化很大，因此必须测量热扩散率。也可以测量树脂基材料。
电子零件散热材料的评价，半导体激光器的电极部分的评价，热电发电材料的评价，超硬工具的涂层的评价等。
样品测量方向热扩散率[m 2 s -1 ]测量值参考值*聚乙烯t = 25μm硅橡胶散热片碳纳米管（CNT）橡胶石墨片高导热树脂A 20Wm -1 K -1级（由Unitika制造）高导热性树脂B 5Wm -1 K -1级（由Unitika制造）
| 垂直 | 0.14×10 -6 | 0.13×10 -6 |
| 卧式 | 0.8×10 -6 | 0.73×10 -6 |
| 垂直 | 1.1×10 -6 | 不适用 |
| 卧式 | 1.3×10 -6 | 不适用 |
| 垂直 | 0.24×10 -6 | 不适用 |
| 卧式 | 6.0×10 -6 | 不适用 |
| 垂直 | 1.9×10 -6 | 1.8-2.8 x 10 -6 |
| 卧式 | 100×10 -6 | 90-100×10 -6 |
| 垂直 | 1.6×10 -6 | 2.4×10 -6 |
| 卧式 | 16×10 -6 | 12×10 -6 |
| 垂直 | 0.74×10 -6 | 1.2×10 -6 |
| 卧式 | 3.9×10 -6 | 3.1×10 -6 |
| TA35 | TA33 | TA32 | TA31 | |
测量目标 | 热扩散率 | ||||
测量范围 | 0.1至1000 [×10 -6 m 2 s -1 ] | ||||
输出数据 | 频率，距离，幅度，相位，厚度摆罢齿罢格式闭 | ||||
测量方式 | 垂直方向 | ○ | ○ | -- | ○ |
水平方向 | ○ | ○ | ○ | -- | |
分布测量 | ○ | -- | -- | -- | |
附加其他 | 温度调制加热器 | 选项 | 选项 | -- | -- |
焦点调整 | 汽车 | 汽车 | 手册 | 手册 | |
控制/分析软件 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
个人电脑 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
测量环境 | 测量温度 | 室内温度 | |||
测量温度（配备加热器时） | 室温?9?1300 [℃] | -- | |||
测量频率 | 0.01 [Hz]?9?1100 [kHz] | ||||
半导体激光器 | 波长 | 808 [纳米] | |||
大输出 | 1.5 [瓦] | ||||
辐射温度计 | 元件 | 铟锑 | |||
冷却方式 | 液氮 | ||||
舞台活动区 | 检测阶段 | ±5 [毫米] | ±5 [毫米] | ±5 [毫米] | -- |
样品台 | ±10 [毫米] | -- | -- | -- | |
重复精度 | ±5 [％] | ||||
电源供应 | AC100-240 [V]，10-5 [A]，50/60 [Hz] | ||||
激光安全 | Ⅰ类激光产物 | ||||
测量目标 | 固体材料（树脂，玻璃，陶瓷，金属，钻石等） |
样品大纲 | 形状不规则是可以接受的 |
表面形状 | 应该没有的不平整（如果可以厚度） |
表面处理 | 需要进行黑化处理（在某些情况下，对于碳基材料不是必需的） |
样本量 | 大值：100 x 100 x 2 [mm] |
参考样品 | 不必要 |
