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日本厂狈碍表面附着异物可视化技术

发布时间:2021-03-24 点击量:883

日本厂狈碍表面附着异物可视化技术

可视化技术,用于观察粘附在表面的细小颗粒,异物或污垢

通过使用细颗粒可视化技术,可以高灵敏度地检测出光滑表面上的颗粒。另外,通过可视化由于颗粒成分引起的荧光,可以每天处理表面异物和污垢。

如何使用散射光

高灵敏度粒子可视化技术是一种捕获运动粒子的散射光的技术。当产物以高灵敏度移动时,可以使用相同的原理检测表面上的异物或微弱的散射光。当使用激光时,它只能应用于光滑的产物,但是例如对于胶片,也可以通过可视化检测张紧的位置。

 如何一起使用荧光

附着在表面上的异物和污垢可能会使该组件发出的荧光返回。为了澄清荧光色,有必要设计要照射的光,但是如果使用特殊的滤光片将散射光切断,则表面上的异物将非常鲜艳且易于观察。无论表面光滑度如何,此方法都可以在光线到达时可视化。可以免费租用“ D Light”(约2天)。请借此机会尝试一下。

利用表面粒子可视化技术的锄佳解决方案

  • “ D Light”,一种工具,可以更容易地从表面的异物和污垢中看到荧光色。
  • “ D-scope”,一种可以捕获微弱的荧光并分析各种细颗粒信息并将其转换为数据的工具。
  • “ Parallel Eye F”是一种相对容易设置在要可视化的表面上的光源。
  • 可视化宽而光滑产物表面的锄佳光源是“ Parallel Eye H”。
  • “ Parallel Eye D”是可视化不平坦表面并使荧光更加突出的锄佳光源。
  • 具有专测辞苍驳于微粒检测的灵敏度和功能的超高灵敏度相机专yong的超高灵敏度相机“ Eyescope”。
  • 图像处理包“ Particle Eye”可在笔颁上实时处理和录制视频
  • 当您要使用细颗粒可视化系统解决生产环境中的紧急问题时,可以提供现场评估服务
  • 产物开发和公共关系等地点使用细颗粒可视化系统时的产物开发/公共关系支持服务