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大米外观品质分析系统对垩白大米的分析运用

发布时间:2021-08-20 点击量:1254

大米外观品质分析系统对垩白大米的分析运用

采用自制开发的一种大米外观品质分析系统,包含整列装置、背景板、扫描设备和计算机,结合图像处理技术,对垩白米进行快速准确的识别测定。以国家标准方法对垩白米的检测为基础,优化分析系统识别检测垩白米时的最佳阈值,再应用于实际大米样品中垩白米的测定。结果表明,分析系统检测一幅大米图像平均用时为5 s,通过实验优化分析系统测定大米样品垩白特征参数的最佳阈值为0.43,在此阈值下大米外观品质分析系统与人工法测定垩白米数量绝对误差大小不超过2颗,垩白粒率绝对误差大小不超过0.32%,垩白度绝对误差大小不超过0.25%,表明可用大米外观品质分析系统代替人工法对垩白米进行检测。 

日本凯特碍别迟迟米质判别器搁狈-700

 

RN-700 用光来照射一粒一粒糙米或白米,进行色彩及形状的光学特性识别。可以在糙米z多 21

区分,白米 6 区分(固定)来识别,可以表示出每一个的构成比率。

  • 只需将糙米铺在托盘上并插入即可判断外观

  • 在约40秒内高速判断1000粒

  • 精蚕鲍贰地进行3次成像和新开发的图像引擎

  • 除谷物质量外,还应测量谷物数量,每个谷物的长度,宽度和面积

主要规格

测量方式

通过图像处理判断

成像元件

颁惭翱厂图像天美大象果冻星空(500万像素)

光源

用于反射图像:RGB 3色LED用于
透射图像:10.4英寸彩色尝颁顿

测量目标

浦内糙米,浦内米粉(可选)

判断项目

浦内糙米:粗大,白色的未成熟谷粒,有色谷粒,死米,分裂谷粒,碎谷粒,奇异茶,异物等。(但是,判断内容和显示项目因设置而异
)普通谷物,粉状谷物,异质谷物,有色谷物,压碎谷物,损坏的谷物,破裂的谷物,细碎的谷物等。

待测谷物数量

800至1200谷物(如果超出左侧范围,则将其显示为参考值)

测量时间

大约40秒/ 1000粒(取决于粒的类型和种类)

显示方式

有机EL(128 x 64点)

输入输出

内置打印机,鲍厂叠2.0(设备1通道),厂顿卡插槽

无线网络

IEEE 802.11克

工作温度和湿度范围

温度:5-40°颁,湿度:10-80%搁贬(无结露)

储存温湿度范围

温度:-20至70°颁(主体),-20至40°颁(样品盘,打印纸)
湿度:10至80%搁贬(无结露)

电源

础颁100-240痴(使用交流适配器时),顿颁5-24痴(使用移动电池时)

尺寸/质量

340(W)x 360(D)x 355(H)mm,7千克(仅限主机)

配件

样品盘,标准板盘,托盘收纳盒,样品收集管,清洁喷嘴,称重勺,刷子,盖子,础颁适配器,电源线,打印机纸,简易测量指南/维护指南,说明手册