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适合评估光学元件的多端口光功率计介绍

发布时间:2021-10-13 点击量:1272

适合评估光学元件的多端口光功率计介绍

MPM-210H / MPM-211、212、213、215

多端口光器件光学特性的高速测量

  • 可进行高速测量(每个端口最多 100 万个记录点)

  • 一台设备最多可测量20个端口(可同时使用多台设备)

  • 功率计模块 (MPM-211 / 212/215)

  • 电流表模块 (MPM-213)

概述

MPM-210H 非常适合对多端口光学组件(例如波长选择开关 (WSS) 和 AWG 模块)进行插入损耗和 WDL/PDL 测量。通过与配备功率监视器输出的可调光源(TSL 系列)组合可以实时消除光源的光输出波动,并进行高精度的损耗测量。
有关光学表征系统的更多信息,请参阅扫描测试系统&苍产蝉辫;。

特征

  • 高速测量
    每个
    端口最多可进行 100 万点的记录采样 每个端口配备两个存储器,即使在记录期间也可以读取
    最高 100 kHz 的高速采样是可能的

  • 高动态范围
    -80 ~ + 10dBm (MPM-211 / 212)
    -70 ~ + 5dBm (MPM-215)

  • 高动态范围(在记录模式下)
    50dB / 扫描 (MPM-211 / 212)
    70dB / 扫描 (MPM-215)

  • 电流表模块 (MPM-213)
    输入功率范围 --70 至 + 10 dBmA

  • 配备模拟输出(惭笔惭-212)

  • 最多可安装5个模块(最多可同时测量20个端口)

  • 波长范围 1250-1650 nm

  • MPM-210H 是 MPM-210 的向上兼容型号

运用

  • 光功率测量

  • IL/WDL/PDL 测量(扫频测试系统