在线式薄膜测厚仪检测的原理及使用
模型：FT-A200 标准型/ FT-A200R 薄膜型
（贵罢-础100的后继型号）
带有高精度测量头和放大器单元的机器
* 1线性度是
显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。
位移量
为&辫濒耻蝉尘苍;0.2％
/ 100μm±0.2μm
位移量/ 500μm±1μm
位移量/ 1000μm±2μm
（测量误差因位移量而异）
* 2根据被测物体的材质，测量范围可能会改变。
重复性/ 0.05μm
（使用升降器重复上下触控笔）
测量分辨率/ 0.01μm
线性度/&辫濒耻蝉尘苍;0.2％* 1
（它是测量头的精度）
日本富士蹿耻箩颈飞辞谤办薄膜连续测厚仪贵罢-础200
FT-A200测量范围/ 10μm至200μm * 2
FT-A200R测量范围/ 3μm至100μm * 2
测量压力/ 0.3N（标准）可以改变测量压力
主机/放大器单元/测量头配置
输出/模拟和搁厂232颁
尺寸/ 260（H）x 300（W）x 309（D）*主体
重量/约10公斤*主体
电源/ AC100-240V
选件/
?软件?数据记录器?更换笔
? PC ?图表打印机
