用于低磁导率材料加工后的微观结构检测技术
检查低磁导率材料加工后的微观结构变化。&苍产蝉辫;
(1) 可以在短时间内准确测量低磁导率的材料。
(2) 材料质量控制可以很容易地进行。
(3) 可以进行混合不同材料的试验。
| 测量范围 | 1.001-4 | ||
| 测量范围 | 1.03·1.1·1.3·2.0·4.0（5个范围） | ||
| 准确性 | ± 3% 范围 | ||
| 校准方法 | 附标准试片 | ||
| 输出 | DC 1V / FS（但是，当设置范围 1 时） | ||
| 电源 | AC100V ± 10% 50 / 60Hz 约 50VA | ||
| 外形尺寸（尘尘）/质量 | 260W x 162H x 310D（包括突起）约4kg | ||
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