材料检测装置 M-CAP V2 系列的特征及功能介绍
材料检查装置M-CAP V2是充分利用新的图像处理技术开发的平面专用外观检查装置。在保持与以前相同的易用性的同时，实现了更高的速度和更高的分辨率。除了检测针孔、异物污染和污垢附着等小缺陷外，它不会忽略薄膜材料不均匀、条纹和划痕等难以区分的缺陷。
无论安装位置如何，都可以灵活布局
集成单元主体的控制面板已被取消，配置由每个功能的组件组成。
这增加了安装的灵活性，并有助于有效利用工厂空间。
追求用户友好的易用性
采用液晶显示器和易于使用的交互系统，操作变得简单。
通过更新成像系统实现高速和高分辨率
采用新开发的数码相机，在高速传输过程中实现清晰的图像和微小缺陷的检测。
标准配备
专有 LED 照明 使用具有高亮度和高显色性的专有 LED 照明。
还可以剔除因特殊结构而难以判断的鱼眼（凝胶）和黑点。
即使放大
了基于 AI 的超分辨率技术，也可以清楚地显示缺陷图像，即使在放大时也可以防止缺陷图像变得颗粒状。
通过增强的数据管理进行有效的质量控制
实时汇总每行和距离的缺陷数量，数据可以作为 PDF 文件输出。
它还支持网络数据管理功能等，有助于更有效的质量控制和提高生产力。
检查功能的显着扩展
最多可同时检查 5 个电路，极大地提高了检查性能。
线性缺陷检测电路增强了对皱纹、薄膜裂纹、毛发、绒毛等的检测。
此外，光缺陷检测电路增强了对大面积光斑和不均匀光斑的检测。
应用
薄膜、片材、无纺布、金属、各种涂膜等。
适配机
贴膜、制片机等
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