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  • 日本sasaki koki非接触式测厚仪OZUMA22
    日本sasaki koki非接触式测厚仪OZUMA22

    日本sasaki koki非接触式测厚仪OZUMA22 半导体(各种材料)的晶片硅Si.GaAs砷化镓等,玻璃,金属,化合物等的高精度非接触式厚度测量(非接触式厚度测量)

    时间:2024-09-09型号:
  • 日本颁础笔罢础滨狈六角形超声波测厚仪鲍罢笔-47.10
    日本颁础笔罢础滨狈六角形超声波测厚仪鲍罢笔-47.10

    日本颁础笔罢础滨狈六角形超声波测厚仪鲍罢笔-47.10 先进的车载测量技术, 使用超声波自动测量工件的厚度

    时间:2024-09-09型号:
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    搁奥笔20.50-鲍罢笔-奥贰罢日本颁础笔罢础滨狈六角形超声波测厚仪

    日本CAPTAIN六角形超声波测厚仪RWP20.50-UTP-WET 飞机零件的后处理厚度控制是重要的过程。 当前,使用手提型超声波测厚仪,并且人手动测量并记录该值。 由于测量大型工件(例如飞机机体)的厚度需要几个小时,因此自动测量飞机上工件厚度的探测系统可以大大提高生产率。

    时间:2024-09-09型号:RWP20.50-UTP-WET
  • 日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列
    日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列

    日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列 通常,为了测量片材的宽度方向上的厚度分布,检测系统由扫描仪携带并进行测量。通常使用激光位移计作为不接触地测量厚度的手段,但是如果将激光位移计安装在扫描仪上,则其传送的精度远远低于激光位移计的精度,从而导致结果。高精度测量是困难的。

    时间:2024-09-09型号:
  • 日本nanogray X射线测厚仪SX-1100系列
    日本nanogray X射线测厚仪SX-1100系列

    日本nanogray X射线测厚仪SX-1100系列 使用软X射线(软X射线)的厚度计(膜厚度计)。以非接触方式(软X射线)测量薄片和板状物体的厚度和密度(基本重量)。通过直接与参考物质比较来计算厚度和密度(基本重量),而不是直接测量厚度。

    时间:2024-09-09型号:
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