日本sasaki koki非接触式测厚仪OZUMA22 半导体（各种材料）的晶片硅Si.GaAs砷化镓等，玻璃，金属，化合物等的高精度非接触式厚度测量（非接触式厚度测量）
日本CAPTAIN六角形超声波测厚仪RWP20.50-UTP-WET 飞机零件的后处理厚度控制是重要的过程。 当前，使用手提型超声波测厚仪，并且人手动测量并记录该值。 由于测量大型工件（例如飞机机体）的厚度需要几个小时，因此自动测量飞机上工件厚度的探测系统可以大大提高生产率。
日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列 通常，为了测量片材的宽度方向上的厚度分布，检测系统由扫描仪携带并进行测量。通常使用激光位移计作为不接触地测量厚度的手段，但是如果将激光位移计安装在扫描仪上，则其传送的精度远远低于激光位移计的精度，从而导致结果。高精度测量是困难的。
日本nanogray X射线测厚仪SX-1100系列 使用软X射线（软X射线）的厚度计（膜厚度计）。以非接触方式（软X射线）测量薄片和板状物体的厚度和密度（基本重量）。通过直接与参考物质比较来计算厚度和密度（基本重量），而不是直接测量厚度。
