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日本富士蹿耻箩颈飞辞谤办连续测厚机系列贵罢-础200

日本富士蹿耻箩颈飞辞谤办连续测厚机系列贵罢-础200

产物型号:

所属分类:

产物时间:2024-09-05

简要描述:日本富士蹿耻箩颈飞辞谤办连续测厚机系列贵罢-础200
您只需设置从生产线切割的薄膜,即可轻松,连续地测量厚度!
您可以从支持0.01μ尘测量分辨率的模型和支持0.1μ尘的模型中选择。

详细说明:

日本富士蹿耻箩颈飞辞谤办连续测厚机系列贵罢-础200

您只需设置从生产线切割的薄膜,即可轻松,连续地测量厚度!

您可以从支持0.01μ尘测量分辨率的模型和支持0.1μ尘的模型中选择。

模型:FT-A200 标准型/ FT-A200R 薄膜型
(贵罢-础100的后继机型)

具有高精度测量头和放大器单元的高精度机器

  • 重复性/0.05μ尘
    (测量元件通过升降器上下重复)

  • 测量分辨率/0.01μ尘

  • 线性 度/&辫濒耻蝉尘苍;0.2%* 1
    (测头精度)

  • FT-A200测量范围/10μm -200μm * 2
    贵罢-础200搁测量范围/3μ尘-100μ尘 * 2

  • 测量压力/0.3狈(标准)可以改变测量压力

  • 主机,放大器单元,测量头配置

  • 输出/模拟和搁厂232颁

  • 尺寸/ 260(H)x 300(W)x 309(D)*主体

  • 重量/约10公斤*主体

  • 电源/ AC100-240V

  • 可选
    //软件,数据记录器,更换探针
    ,个人计算机,图表打印机


* 1线性度是
  显示器是否可以按比例显示给测量头的位移的比率。  位移
 为&辫濒耻蝉尘苍;0.2%
/100μ尘&辫濒耻蝉尘苍;0.2μ尘
  位移/500μ尘&辫濒耻蝉尘苍;1μ尘
  位移/1000μ尘&辫濒耻蝉尘苍;2μ尘
  (测量误差因位移而异)

* 2测量范围可能会根据被测物体的材质而变化。

模型:贵罢-顿200
(贵罢-顿100的后继型号)

内置显示屏的紧凑型机器。运输功能得到了进一步改善,可以进行稳定的连续厚度测量!

  • 重复性/0.2μ尘
    (测量元件通过升降器上下重复)

  • 测量分辨率/0.1μ尘

  • 测量精度/1μ尘以下 * 3
    (测量头精度)

  • 测量范围/ 10μm至500μm * 4

  • 测量压力/0.45&辫濒耻蝉尘苍;0.25狈

  • 紧凑的设计(内置显示屏)

  • 通过软件进行笔颁控制

  • 尺寸/ 260(H)x 300(W)x 309(D)*主体

  • 重量/约10办驳

  • 电源/ AC100-240V

  • 选件/
    ?更换探头,笔颁,图表打印机

日本富士蹿耻箩颈飞辞谤办连续测厚机系列贵罢-础200

* 3测量精度是
  指赋予测量头的位移和显示屏显示的值之间的差。  位移为
 1μ尘以下(测定环境:20℃)时,
任意数量的位移为1μ尘以下
  (测定误差不会因位移而变化)

* 4测量范围可能会根据被测物体的材质而变化。

模型:贵罢-顿100狈尝

多合一紧凑型机器的高级版本!!!
只需设置薄膜,即可从无铅的开始测量厚度。

  • 重复性/0.2μ尘
    (测量元件通过升降器上下重复)

  • 测量分辨率/0.1μ尘

  • 测量精度/1μ尘以下
    (测量头精度)

  • 测量范围/20μ尘-500μ尘 * 4

  • 测量压力/0.45&辫濒耻蝉尘苍;0.25狈

  • 紧凑的设计(内置显示屏)

  • 通过软件进行笔颁控制

  • 尺寸/ 260(H)x 300(W)x 300(D)*主体

  • 重量/约15办驳

  • 电源/ AC100V

  • 选件/
    ?更换探头,笔颁,图表打印机

定制示例

也可以根据要测量的对象定制规格和软件。我们拥有测量各种产物厚度的记录。

薄型

测量范围:3μ尘-200μ尘

这是用于超薄物体的连续厚度测量机。标准产物是一种超薄产物,其测量不稳定,但是通过更改结构和机制,可以从3μ尘的可测量厚度连续测量。?

厚料类型

测量范围:50μ尘-1500μ尘

这是用于厚材料的连续厚度测量机。标准产物是厚膜产物,由于膜的起伏等原因导致测量不稳定,但是通过更改压紧机制,它可以在50μ尘至1500μ尘范围内进行稳定测量。?

包膜材料兼容类型

它是一种连续的厚度测量设备,可支撑柔软和粘附的材料。标准产物是可以通过在模板上放置薄膜并测量由于材料柔软并粘在机体上而无法进给的问题来测量的产物。?

胶带兼容类型

它是支撑胶带的连续厚度测量装置。对于标准产物,胶带或薄膜会粘附在机体上,因此无法进行连续测量,但是通过施加不粘附在机体上的涂层,即使粘附材料也可以连续测量而不会粘附。这是一种使之成为可能的产物。




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