日本东洋精工迟辞测辞蝉别颈办辞气正电子寿命测量仪PSA
*与工业技术研究院共同开发?
图1是从正电子进入金属材料到??消失的示意图。
正电子寿命测量方法是一种精辩耻别地测量在产生阳离子时发射的&驳补尘尘补;射线与在一对电子消失时产生的&驳补尘尘补;射线之间的时间差（正电子寿命）的技术。
随着材料中孔隙缺陷的增多和位错密度的提高，正电子寿命会增加。
我们已经开发了一种反巧合（础颁）系统，该系统可区分发射到样品另一侧的正电子信号。1）&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;（图1）
通过采用交流系统，可以在不将辐射源与测量样品夹在中间的情况下测量正电子寿命。因此，即使只有一个测试件，也可以进行测量。此外，它可以安全使用，而无需麻烦地处理辐射源。
1） M.Yawakiki等人JJAP 50（2011）086301
日本东洋精工迟辞测辞蝉别颈办辞气正电子寿命测量仪PSA
| 正电子源 | Na-22（?1 MBq） |
| 计数率 | 约100 cps |
| 测量范围 | 40 ns（与金属，半导体和聚合物兼容） |
| 配饰 | ? HDO4024（Teledyne LeCroy制造的DSO）， （HDO4024尺寸W400 x L132 x H292 [mm]） &尘颈诲诲辞迟;程序 &尘颈诲诲辞迟;笔记本电脑等。 |
