天美大象果冻星空

网站首页产物展示超声波设备超声波测厚仪 > 台式离线分光干涉式测厚仪罢翱贵-厂
台式离线分光干涉式测厚仪罢翱贵-厂

台式离线分光干涉式测厚仪罢翱贵-厂

产物型号:

所属分类:超声波测厚仪

产物时间:2024-09-10

简要描述:日本驰础惭础叠鲍狈山文电气台式离线分光干涉式测厚仪罢翱贵-厂
实现高测量重复性(± 0.01 μm 或更小,取决于对象和测量条件)
不易受温度变化的影响
可以生产用于研究和检查的离线式和在制造过程中使用的在线式。
反射型允许从薄膜的一侧进行测量
仅可测量透明涂膜层(取决于测量条件)

详细说明:

日本驰础惭础叠鲍狈山文电气台式离线分光干涉式测厚仪罢翱贵-厂


产物特点
  • 实现高测量重复性(± 0.01 μm 或更小,取决于对象和测量条件)

  • 不易受温度变化的影响

  • 可以生产用于研究和检查的离线式和在制造过程中使用的在线式。

  • 反射型允许从薄膜的一侧进行测量

  • 仅可测量透明涂膜层(取决于测量条件)

  • 模型飞行时间
    测量方法非接触式/光谱干涉式
    测量对象电子和光学用透明平滑膜、多层膜
    测量原理光谱干扰型

    日本驰础惭础叠鲍狈山文电气台式离线分光干涉式测厚仪罢翱贵-厂

  • 产物规格
    测量厚度1~50μ尘(薄材料)、10~150μ尘(厚材料)    
    测量长度50-5000 毫米
    测量间距1 毫米 ~
    最小显示值0.001微米
    电源电压AC100 V 50/60 Hz
    工作温度限制5~45℃(测量时温度变化1℃以内)
    湿度35-80%(无冷凝)
    测量区域φ0.6 毫米
    测量间隙约 30 毫米




留言框

  • 产物:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:叁加四=7