天美大象果冻星空

网站首页技术中心 > 适用于软薄膜的测厚仪介绍
产物中心

Product center

适用于软薄膜的测厚仪介绍

发布时间:2022-02-18 点击量:689

适用于软薄膜的测厚仪介绍

模型TOF-C2 * TOF-C 的后续型号
测量方法非接触式/电容式
测量对象薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜
测量原理电容式
产物特点
  • 高测量分辨率

  • 由于是非接触型,因此非常适合接触型难以测量的薄膜。

  • 即使表面状况粗糙,也可以进行测量。

  • 基重测量

  • 操作简单(具有自动介电常数设置功能)

产物规格
测量厚度~ 500 微米
测量长度10 至 10000 毫米
测量间距1 毫米 ~
最小显示值0.01微米
电源电压AC100V 50 / 60Hz
工作温度限制5-40℃(测量时温度变化1℃以内)
湿度35-80%(无冷凝)