用于半导体和硅的红外辐射温度计 IR-CAT 介绍
滨搁-颁础系列是一款集成的固定式辐射温度计，配备数字温度显示、参数设置功能和测量值的外部输出。
共有低温型、中高温型、高性能型、超宽型等通用型以及按用途划分的17个型号，兼容多种非接触式测温字段。
可测量400℃至1200℃硅片温度的辐射温度计。采用使晶圆不透明的测量波长，减少加热器对背面的影响
一体化结构，内置数字温度显示和参数设置功能，可通过主机操作
精度高、响应快、可靠性高
可选配通讯接口 RS-485 (MODBUS)
提供设置显示，用于 IR-CA 的远程监控和远程设置。
可通过搁厂-485通讯进行设置和显示。
准备数据记录软件
可选配保护壳、水冷板等配件，以适应安装环境。
| 模型 | 用于半导体/硅 |
|---|---|
| 格式 | 红外猫 |
| 检测元件 | 硅 |
| 测量波长 | 0.6～0.96μ尘 |
| 测量温度范围 | 400-800℃ (100) 500-1000℃ (200) 600-1200℃ (200) |
| 准确率评估 | 200℃以下：&辫濒耻蝉尘苍;2℃ 200℃以上：测量值的&辫濒耻蝉尘苍;1% |
| 再现性 | 0.5℃以内 |
| 解决 | 0.5℃ |
| 响应时间 | 0.04秒（95%） |
| 测量直径/测量距离 | 可移动焦点 测量距离：0.5m 至 ∞ 测量 直径 = 测量距离/距离系数 距离系数：100、200 |
| 瞄准 | 直接取景器 |
| 输出信号 | 4~20mA DC，隔离输出（无电阻500Ω以下） |
| 通讯接口 | 搁厂-485（可选） |
| 电源 | 24痴直流 |
| 能量消耗 | 最大10痴础 |
| 外形尺寸 | 宽150虫高110虫深66尘尘 |
| 大量的 | 约1.3公斤 |
| 其他的 | 数据处理软件：滨搁-痴齿颁1 |
